金属诱导单一方向横向晶化薄膜晶体管以及栅控型轻掺杂漏极结构的研究

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提出了一种低温金属单向诱导横向晶化的多晶硅薄膜晶体管(LT_MIUCpoly_SiTFT)的技术.使用该技术可在大面积廉价玻璃衬底上制备出高迁移率、低漏电电流、具有较好均匀性的多晶硅器件.在进一步的研究中,设计了一种新型的栅控轻掺杂漏区(GM_LDD)结构,有效地解决了在较高源漏电压下的栅诱导漏电问题.使得LT_MIUC poly_SiTFT更适用于高质量的有源矩阵显示器. A technique of low temperature metal unidirectional induced lateral crystallization polycrystalline silicon thin film transistor (LT_MIUCpoly_SiTFT) is proposed, which can be used to prepare high mobility and low leakage current on large area low cost glass substrates with good uniformity Polycrystalline silicon devices.A new type of gate-control lightly-doped drain region (GM_LDD) structure was designed to solve the problem of gate-induced leakage at high source-drain voltage, which makes LT_MIUC poly_SiTFT more suitable for High-quality active matrix display.
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