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系统地研究了高质量La2-xSrxCuO4单晶(x = 0.03, 0.05, 0.07, 0.1, 0.12, 0.17)的热电势S随掺杂浓度的变化. 在所研究的掺杂范围内, 热电势S保持正值. 随着Sr含量x的增加, 室温热电势S(290 K)逐渐降低. 报道了La系214相中空穴浓度和室温热电势S(290 K)之间关系的经验公式. 在金属扩散模型的理论基础上对实验数据进行了讨论.