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新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是由围生期窒息而导致的脑缺氧缺血性损害.近年来,尽管其发生率有所降低,但仍是目前导致小儿致残的主要疾病.因此,应用影像学检测技术评价HIE的脑损伤程度及判定预后具有重要意义.磁共振成像是目前最主要的检测手段,弥散加权成像则能更早期提供有价值的影像学信息,而质子磁共振波谱分析是发现HIE脑代谢异常的功能性检测技术.由于HIE复杂的病理、生化和能量代谢改变,故将常规磁共振成像、弥散加权成像及磁共振波谱分析联合应用会更有助于HIE的病情判定和预后评价.