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分析由辐射造成的单粒子翻转（SEU）软错误,在通用布局布线工具的基础上,提出一种基于SRAM结构的现场可编程门阵列（FPGA）抗辐射布局算法。该算法通过优化电路单元在FPGA中的布局位置,减少布线资源开路敏感错误、短路敏感错误以及SEU敏感点的数目。测试结果表明,该算法能减少SEU软错误,提高FPGA的抗辐射性能,并且无需增加额外的设计成本和硬件开销。