目的:针对结核杆菌耐乙胺丁醇embB306codon位点,设计发夹DNA探针及其相应的单侧延长臂发夹DNA探针,建立发夹DNA探针芯片技术,并初步运用荧光显微镜观测探针与扩增产物杂交的荧光信号。方法:运用Beacondesigner软件,设计embB基因包含306codon的发夹DNA探针及其相应的单侧延长臂发夹DNA探针,荧光显微镜检测embB306codon扩增片段与探针杂交后荧光信号,比较扩增产物测序结果。结果:通过荧光显微镜观测到结核标准株及embB306codon突变株PCR产物与探针杂交后荧光信号存在显著差异;33株耐乙胺丁醇组与10株H37RV标准株对照组荧光信号强度比较,耐乙胺丁醇组embB306codon突变检出率为66%,测序法突变检出率为69%。结论:embB306codon点突变是结核杆菌耐乙胺丁醇的主要原因;发夹DNA探针芯片技术可以有效检测单碱基靶点突变;应用荧光显微镜可以高灵敏地观测荧光芯片杂交靶点。