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元件在贮存期中,不可能连续对其测试,常用一次性检测以取得数据。即取定时刻0<t<sub>1</sub><t<sub>2</sub><…<t<sub>k</sub>,在时刻t<sub>i</sub>,随机地取n<sub>i</sub>只元件进行成败型试验,本文考虑试验结果要通过某检测仪测定。设检测仪的检测正确率为γ<sub>i</sub>,γ<sub>i