第43届设计自动化大会——考虑偏差的设计方法迅速普及

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与芯片及电子设备设计自动化相关的国际会议“第43届设计自动化大会(DAC)”于2006年7月24日-28日在美国洛杉矶隆重召开。与会人数超过了11000人,是近5年来最多的一次,参展商多达250家。
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