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提出了适用于微区测量的两步数字图像相关法，采用二阶泰勒多项式子区位移模式有效地降低了截断误差；采用B-样条插值函数提高了亚像素重建的精度；采用拟牛顿迭代法提高了计算速度等，使微区内应变测量精度控制在100～150με。在残余应变测量中通过数字标记点相关技术实现了试件的精确复位，提高了其测量精度。丈中利用上述方法测量了镀层改性试件跨界面的位移场和应变场，分析了裂纹对镀层的影响以及测出了基材中引起的残余应变；同时对镀层改性界面结合性能作了定量比较。