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针对内核页表隔离(KPTI)技术会影响x86架构处理器的性能的问题,采用不同的基准测试程序对不同的x86架构处理器进行了性能测试,提出了一种基于加权的处理器综合性能评价方法,从底层接口层及系统应用层两个层面评价了KPTI技术对x86架构处理器性能的影响,并比较了基于算术平均和基于几何平均评价方法的不同.通过计算得知,针对“熔断”漏洞的KPTI修复技术会对x86架构处理器的底层接口读写层造成不超过40％的性能损失.此外,采用几何平均的处理器综合性能评价方法相比算术平均会造成更大的性能损失.