论文部分内容阅读
双倍数据速率（DDR，Double Data Rate）DRAM由于其速度快、容量大，而且价格便宜，因此在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用。目前芯片上内嵌的DDR DRAM接口已经成为标准接口，这就需要对其本身进行测试。由于每个芯片速度特性的不同，使得DDR DRAM接口时间特性也不一样，用相同的测试程序覆盖速度不同的芯片，会造成测试覆盖率的不同。本文在DQS上升沿转换点的搜索定位基础上，通过对DQS、DQ时间采样点赋值的方法，有效地解决了因芯片速度特性不同而引起的测试覆盖率问题。该方法经过批量生