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本文说明模拟电路结构化可测性设计（ＤＦＴ）的原则，同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准ＩＥＥＥ Ｐ１１４９．４的基础。
模拟电路结构化可测性设计研究综述
【摘 要】
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本文说明模拟电路结构化可测性设计（ＤＦＴ）的原则，同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准ＩＥＥＥ Ｐ１１４９．４的基础。
【机 构】
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北京自动测试研究所,北京自动测试研究所
【出 处】
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微电子测试
【发表日期】
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1995年2期
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