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介绍一种实用的导电聚合物薄膜电阻率测量系统。电阻率的测量原理基于四探针法与比率测量法，以低值恒压激励代替恒流激励，使2种方法结合在一起；然后以ARM7微控制器为系统核心，构建了量程自适应的半自动式系统架构；对电路实际能达到的分辨率和设计要求分辨率进行详细的分析；最后测量了系列标准电阻和部分导电聚合物薄膜样品的电阻率值，与标准方法进行了对比，分析了系统各项指标。