掺钇钨酸铅晶体发光性能和微观缺陷的研究

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通过透射谱、X射线激发发射谱(XSL)的测试,研究了Bridgman法生长的掺钇钨酸铅晶体的发光性能,并利用正电子湮没寿命谱(PAT)和X光电子能谱(XPS)实验手段,对掺钇钨酸铅晶体的微观缺陷进行研究.实验表明,钇掺杂能够提高钨酸铅晶体的发光快成分比例,并使得晶体中的正电子俘获中心浓度下降,低价氧浓度下降.提出掺钇钨酸铅晶体中钇的掺杂主要以Y3+占据VPb的形式存在.Y3+占据VPb可能是钨酸铅晶体吸收边得到改善的原因,而由于晶体内低价氧浓度的减少,作为绿光发光中心的(WO3+O-)基团的减少可能会使发
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