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本文采用“三明治”(滤膜/碳纳米管/银胶)SERS体系,对提纯后的碳纳米管样品进行缺陷检测。通过与其拉曼散射光谱进行比较,发现较平的缺陷峰D峰在SERS光谱中得到明显地增强,反应出多种碳杂质的信息。该方法使用样品量很少(5μg),光谱信息比普通拉曼要丰富很多。该方法可用于高灵敏度的检测纯化后的样品的缺陷。