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【摘要】目的：观察不同功率的Er，Cr： YSGCJ辅助去除釉质粘结剂后釉质表面的微观形貌。方法：50颗前磨牙随机分为5组，分别采用2.OOW.2.25W，2.50W，2.75W，3.OOW的Er，Cr： YSGG去除釉质粘结剂。结果：①Er，Cr： YSGG辅助去除釉质粘结剂时2.OOW组釉质粘结剂残留明显多于3.OOW组（P<0.05）。②扫描电镜下观察2.OOW与2.25W组牙齿表面釉质破坏不明显，2.50W，2.75W，3.OOW组釉质表面可见不同程度的破坏。结论：使用2.25WEr，Cr： YSGG去除釉质粘接剂是一种有效的方法，可减少去除粘结剂过程中对釉质的损伤。但此研究为体外研究，Er，Cr：YSGG辅助去除釉质粘结剂的体内效果仍需进一步研究。
【关键词】Er，Cr： YSGG;粘结剂;去粘结
【中图分类号】R781.2
【文献标识码】A
【文章编号】1002-8714（ 2019） 04-0140-01
【Key words】Er. Cr： YSGG; adhesive; debonding
随着牙齿矫正的正畸患者越来越多。正畸治疗结束去除托槽后釉质表面会有粘结剂残留，影响釉质颜色和光泽，且去除残留粘结剂过程中伴随表面的机械损伤或牙髓的热损伤，因此安全有效去除残留釉质粘结剂成为研究热点。Er，Cr： YSGG是一种新型的水动力激光治疗系统，其波长为2780nm，其用光能激发水分子，使水分子产生微爆破，形成对靶组织的破坏作用，流动的水带走热量和组织碎屑。本实验采用水激光去除牙釉质表面粘结剂，观察处理后釉质表面残留粘结剂及其它表征，为临床提供参考依据。
1 材料与方法
1.2 材料与设备
1.1.1 牙齿 收集2017年4-8月因正畸需要而拔除的健康前磨牙50颗（患者年龄14 - 18周岁）。要求形态发育正常、完整、无龋坏、无磨损、无充填物。拔除后冲洗，立即放入0.09%NaCI溶液中，37℃恒温保存。
1.1.2实验材料金属网底直丝弓托槽（长沙市天天齿科）;Unitek自凝粘结剂（美国3M）;32%磷酸酸蚀凝胶（美国Bisco）。
1.1.3实验仪器 体视显微镜（ZEISS）;扫描电镜（Phenom Pro）;水激光口腔治疗仪（美国Biolase）。
1.2 实验分组与方法
1.2.1分组与牙齿处理实验前将所有离体牙清洁，32%磷酸酸蚀凝胶酸蚀60s，无油高压水气冲洗15s，吹干，将托槽上涂布足够的分离剂，将托槽粘结在离体牙颊面中1/3处，将托槽周围多余的粘结剂刮除，光照后去除托槽并保证牙面粘结剂完整。干燥放置20min后，放人0.09%NaCl溶液中，37℃恒温保存，24h后取出晾干。将样本随机分成5组，每组10颗，分别使用功率为2.OOW、2.25W、2.50W、2.75W、3.OOW的Er，Cr： YSGG去除各组粘结剂，频率均为20Hz，水压为55%，气压为65%，光纤头的非接触距离为l - 2mm，激光束与激光束呈叠瓦状匀速缓慢扫描粘结剂区域，直至无肉眼可见粘结剂。
1.2.2测量粘结剂残留指数（Adhesive Remnant Index.ARI） 在10倍体视显微镜下观察样本并对各样本进行评分。参考Bishara等的方法[1]，评分标准：牙齿表面无粘接剂残留记为5分;≤1 0%粘结面积的粘接剂残留记为4分;> 10%而≤90%粘结面积的粘结剂残留记为3分;粘接剂残留量> 90%记为2分;粘结剂全部残留于牙齿表面记为1分。
1.2.3扫描电镜观察将所有样本用橡皮轮 抛光膏抛光20s。各组随机选取一颗离体牙作为扫描电镜样本。将处理部位打磨成5mm×5mm，厚约4mm的牙片。常规清洗、真空干燥、喷金后，在扫描电镜下观察各组釉质表面的形态结构和表面形貌。
1.3 统计学处理
应用SPSS23.0对所得数据进行统计学分析。采用Kruskal-Wallis。检验比较各组粘结剂残留指数的差异，检验水准为0.05。
2 结果
各组粘结剂残留指数（ ARI）结果见表1。
对上述数据进行分析，Kruskal-Wallis H检验结果为：X 2=10.307，P=0.036，可以认为各组间的ARI有显著差别。两两比较分析表明：第1组与第5组有显著性差异（P<0.05）。其余各组间差别无意义（P>0.05）。
扫描电镜结果见图1-6
扫描电镜观察可见2.OOW，2.25W组釉质表面形态基本完好，未见明显损伤，粘结剂少量残留;2.50W组可见少许状似火山口样凹坑，2.75W，3.OOW处理组可见许多状似火山口样凹坑，凹坑边缘锐利，且可见明显裂纹，粘结剂残留较少。
3 讨论
随着口腔技术的发展，粘结剂粘接强度不断提高。目前常用的去除方法有：①打磨法②粘结剂去除钳法③激光法等。这些方法多有粘结剂残留，且常伴随釉质[2]及牙髓的损伤[3]。目前多数学者认为碳钨车针去除粘结剂对釉质损伤较小，效率较高，是比较理想的处理方法[4]。
ARI是衡量粘接剂去除效果的指标之一。本研究中后四组的ARI评分集中在3-5，第五组的粘结剂残留明显少于第一组（P<0.05），这可能是由于第一组处理功率较小，去除粘结剂效果较差;第五组处理功率较大，去除粘结剂效果较好。且Er，Cr： YSGG去除釉质粘接剂时，激光照射点是有颜色而可视的，为精确处理残留粘结剂区域提供了有利的条件。单纯使用Er，Cr： YSGG仍有不足，可考虑配合钨钢钻、矽粒子等方法使用。
扫描电镜下观察2.OOW、2.25W组釉质表面无明显破坏，釉柱清晰，呈鱼鳞状。但镜下2.OOW组表面可见明显粘结剂残留，2.50W、2.75W、3.OOW组釉质表面可见明显破坏。2.50W组可见釉质表面有零星的凹坑，而2.75W、3.OOW组较多凹坑，失去原有正常结构特点。各组均未见明显的热损伤变化。各组牙齿釉质表面均有不同程度脱矿，可能与离体牙储存时间过长以及储存于生理盐水中有关，经酸蚀及去除粘结剂后，未发生再矿化。
综上所述，使用2.25WEr，Cr： YSGG去除釉质粘接剂对釉质的损伤较小，可供临床参考。因其镜下粘结剂残留去除还有待提高，且本实验为体外研究，Er，Cr： YSGG.辅助去除釉质粘结剂仍需与其它方法结合进行更深入的研究。
參考文献
[1]
Bishara SE. Gordan VV. VonWald L， et al_ Shear bond strength of composite，glassionomer. and acidic pnmer adhesive systems AmJ Orthod Dento～icial Orthop， 1999， 115（1）：24-28
[2]陈骊，张菊菊，赵丙姣三种方法去除金属托槽粘结剂对牙面影响的研究[J]中国美容医学，2011，20 （1）： 126-129 [3]浦彦去除剩余正畸粘结剂对牙髓腔温度的影响[J]中国现代医药杂志，2008，（9）： 57-58 [4]陈双，樊明月，涂世军，等两种方法去除正畸牙面树脂粘结剂的效果评价[J]口腔医学，2011，31（ 11）： 644-646
【关键词】Er，Cr： YSGG;粘结剂;去粘结
【中图分类号】R781.2
【文献标识码】A
【文章编号】1002-8714（ 2019） 04-0140-01
【Key words】Er. Cr： YSGG; adhesive; debonding
随着牙齿矫正的正畸患者越来越多。正畸治疗结束去除托槽后釉质表面会有粘结剂残留，影响釉质颜色和光泽，且去除残留粘结剂过程中伴随表面的机械损伤或牙髓的热损伤，因此安全有效去除残留釉质粘结剂成为研究热点。Er，Cr： YSGG是一种新型的水动力激光治疗系统，其波长为2780nm，其用光能激发水分子，使水分子产生微爆破，形成对靶组织的破坏作用，流动的水带走热量和组织碎屑。本实验采用水激光去除牙釉质表面粘结剂，观察处理后釉质表面残留粘结剂及其它表征，为临床提供参考依据。
1 材料与方法
1.2 材料与设备
1.1.1 牙齿 收集2017年4-8月因正畸需要而拔除的健康前磨牙50颗（患者年龄14 - 18周岁）。要求形态发育正常、完整、无龋坏、无磨损、无充填物。拔除后冲洗，立即放入0.09%NaCI溶液中，37℃恒温保存。
1.1.2实验材料金属网底直丝弓托槽（长沙市天天齿科）;Unitek自凝粘结剂（美国3M）;32%磷酸酸蚀凝胶（美国Bisco）。
1.1.3实验仪器 体视显微镜（ZEISS）;扫描电镜（Phenom Pro）;水激光口腔治疗仪（美国Biolase）。
1.2 实验分组与方法
1.2.1分组与牙齿处理实验前将所有离体牙清洁，32%磷酸酸蚀凝胶酸蚀60s，无油高压水气冲洗15s，吹干，将托槽上涂布足够的分离剂，将托槽粘结在离体牙颊面中1/3处，将托槽周围多余的粘结剂刮除，光照后去除托槽并保证牙面粘结剂完整。干燥放置20min后，放人0.09%NaCl溶液中，37℃恒温保存，24h后取出晾干。将样本随机分成5组，每组10颗，分别使用功率为2.OOW、2.25W、2.50W、2.75W、3.OOW的Er，Cr： YSGG去除各组粘结剂，频率均为20Hz，水压为55%，气压为65%，光纤头的非接触距离为l - 2mm，激光束与激光束呈叠瓦状匀速缓慢扫描粘结剂区域，直至无肉眼可见粘结剂。
1.2.2测量粘结剂残留指数（Adhesive Remnant Index.ARI） 在10倍体视显微镜下观察样本并对各样本进行评分。参考Bishara等的方法[1]，评分标准：牙齿表面无粘接剂残留记为5分;≤1 0%粘结面积的粘接剂残留记为4分;> 10%而≤90%粘结面积的粘结剂残留记为3分;粘接剂残留量> 90%记为2分;粘结剂全部残留于牙齿表面记为1分。
1.2.3扫描电镜观察将所有样本用橡皮轮 抛光膏抛光20s。各组随机选取一颗离体牙作为扫描电镜样本。将处理部位打磨成5mm×5mm，厚约4mm的牙片。常规清洗、真空干燥、喷金后，在扫描电镜下观察各组釉质表面的形态结构和表面形貌。
1.3 统计学处理
应用SPSS23.0对所得数据进行统计学分析。采用Kruskal-Wallis。检验比较各组粘结剂残留指数的差异，检验水准为0.05。
2 结果
各组粘结剂残留指数（ ARI）结果见表1。
对上述数据进行分析，Kruskal-Wallis H检验结果为：X 2=10.307，P=0.036，可以认为各组间的ARI有显著差别。两两比较分析表明：第1组与第5组有显著性差异（P<0.05）。其余各组间差别无意义（P>0.05）。
扫描电镜结果见图1-6
扫描电镜观察可见2.OOW，2.25W组釉质表面形态基本完好，未见明显损伤，粘结剂少量残留;2.50W组可见少许状似火山口样凹坑，2.75W，3.OOW处理组可见许多状似火山口样凹坑，凹坑边缘锐利，且可见明显裂纹，粘结剂残留较少。
3 讨论
随着口腔技术的发展，粘结剂粘接强度不断提高。目前常用的去除方法有：①打磨法②粘结剂去除钳法③激光法等。这些方法多有粘结剂残留，且常伴随釉质[2]及牙髓的损伤[3]。目前多数学者认为碳钨车针去除粘结剂对釉质损伤较小，效率较高，是比较理想的处理方法[4]。
ARI是衡量粘接剂去除效果的指标之一。本研究中后四组的ARI评分集中在3-5，第五组的粘结剂残留明显少于第一组（P<0.05），这可能是由于第一组处理功率较小，去除粘结剂效果较差;第五组处理功率较大，去除粘结剂效果较好。且Er，Cr： YSGG去除釉质粘接剂时，激光照射点是有颜色而可视的，为精确处理残留粘结剂区域提供了有利的条件。单纯使用Er，Cr： YSGG仍有不足，可考虑配合钨钢钻、矽粒子等方法使用。
扫描电镜下观察2.OOW、2.25W组釉质表面无明显破坏，釉柱清晰，呈鱼鳞状。但镜下2.OOW组表面可见明显粘结剂残留，2.50W、2.75W、3.OOW组釉质表面可见明显破坏。2.50W组可见釉质表面有零星的凹坑，而2.75W、3.OOW组较多凹坑，失去原有正常结构特点。各组均未见明显的热损伤变化。各组牙齿釉质表面均有不同程度脱矿，可能与离体牙储存时间过长以及储存于生理盐水中有关，经酸蚀及去除粘结剂后，未发生再矿化。
综上所述，使用2.25WEr，Cr： YSGG去除釉质粘接剂对釉质的损伤较小，可供临床参考。因其镜下粘结剂残留去除还有待提高，且本实验为体外研究，Er，Cr： YSGG.辅助去除釉质粘结剂仍需与其它方法结合进行更深入的研究。
參考文献
[1]
Bishara SE. Gordan VV. VonWald L， et al_ Shear bond strength of composite，glassionomer. and acidic pnmer adhesive systems AmJ Orthod Dento～icial Orthop， 1999， 115（1）：24-28
[2]陈骊，张菊菊，赵丙姣三种方法去除金属托槽粘结剂对牙面影响的研究[J]中国美容医学，2011，20 （1）： 126-129 [3]浦彦去除剩余正畸粘结剂对牙髓腔温度的影响[J]中国现代医药杂志，2008，（9）： 57-58 [4]陈双，樊明月，涂世军，等两种方法去除正畸牙面树脂粘结剂的效果评价[J]口腔医学，2011，31（ 11）： 644-646