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设计了一种基于图像处理的芯片自动开封算法,用于芯片预开封过程中芯片键合丝的自动检测与开封过程控制。算法主要利用芯片开封过程中键合丝出现前后图像中开封区域灰度变化规律,结合图像信息设计了帧间差分双阈值判断的开封算法,实现了芯片开封过程自动化,经实物验证,其有效避免了人为判断不准而损伤内部键合丝及针对较厚芯片手动开封效率低下等问题。