激光辐照引起Ge2Sb2Te5非晶态薄膜的电/光性质变化

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研究了激光辐照引起Ge2Sb2Te5非晶态薄膜的电/光性质变化,当激光功率为580mW时薄膜的方块电阻有四个数量级(10^7~10^3Ω/□)的突变;对电阻发生突变前、中、后的三个样品进行了XRD测试,结果表明,随着激光功率的增大,薄膜由非晶态向晶态转变,用椭偏仪测试了结构转变前、中、后三个样品的光学常数,在可见光范围内薄膜的光学常数在波长相同情况下有:n(非晶态)〉n(中间态)〉n(晶态),k(晶态)〉k(中间态)〉k(非晶态),α(晶态)〉α(中间态)〉α(非晶态),结合电阻变化曲线和XRD图谱讨论了
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