论文部分内容阅读
2005年08月23日,由中国半导体行业协会和中国赛宝实验室主办的第三届中国国际集成电路产业展览暨北京微电子国际研讨会(IC China2005)之主题分会——“集成电路可靠性技术与发展研讨会”在北京隆重召开。本次会议邀请了国内外半导体集成电路设计、制造、测试和封装行业及可靠性分析试验设备厂商的技术主管、