逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gin901122
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法。
其他文献
受苏州市政府的热情邀请,在信息产业部有关司/局、江苏省信息产业厅及苏州市政府的大力支持下,由中国半导体行业协会主办、中国半导体行业协会集成电路分会协办、深圳市亚科希信
近年来,我国的集成电路产业保持了高速、平稳的发展。据统计,集成电路的产量和销售收入年平均增幅在30%左右,预计05年的产量达到260亿块,同比增长18%,销售额预计完成700亿元同比增长
设计了一种新型结构的MOEMS阵列光开关,开关由上电极阵列、倾斜下电极阵列和准直光纤阵列三部分组成。上电极阵列利用(110)硅片制作,其中包括反射镜阵列和扭臂驱动结构的上电极阵