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应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法, 研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化, 以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律, 采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征. Vop参量与表面膜厚度的变化率间存在密切关系, Vop反映了电极表面表面膜厚度的变化率.