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针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战;然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题;最后,对多核处理器硅后调试研究热点和趋势进行了分析,并指出该领域未来可能的研究方向。