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对于红外光度法测量晶浆饱和温度、过饱和度的系统误差作了定性和定量的分析。系统误差来源包括：微晶的增溶效应（即Ｇｉｂｂｓ＿Ｔｈｏｍｓｏｎ效应）、细晶的预结晶作用、测温时的传热滞后、模／数转换精度及其它如操作过程引入的误差等。实验测量和定量分析的结果表明，对于蔗糖晶浆，用红外光度法测量其饱和温度的误差为２７２Ｋ～２７２．５Ｋ。