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本文主要针对半超结VDMOS器件的设计和应用进行简要讨论分析,并通过超结器件的工作原理缺点以及使用的改进方法,对其进行理论性质方面的应用探究。而在这种新型器件的使用中,结构特征与工作原理,就代表了全部的结构应用区间。对于新型器件结构在日常使用中的安全问题,需要结合元器件的制造需求,以及市场未来的发展需求,进行综合分析。