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简要介绍了我们实验室中进行的电化学阻抗频谱(EIS)与孔蚀诱导期中电化学噪声(EN)的谱功率密度(SPD)的研究进展。通过引入定态过程稳定性条件,导出了具有2和3个时间常数EIS的法拉第导纳公式,将它们应用于EIS数据分析的工作也正在进行中;发展了混合电位下的EIS理论并成功地应用于界面型缓蚀剂研究。证明了孔蚀诱导期中EN的SPD的特征是:极低频率下为“白噪声”,在较高频率下则转变为f~n噪声,n的数值在2至4之间。导出了相应的理论公式。