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本文提出了一种新的基于单元电流重构的平面近远场变换方法 ,给出了该方法的基本原理 .计算机模拟结果表明 ,这种方法不要求取样间隔一定要满足奈奎斯特取样准则 ,只需较少的取样点数即可达到很高的测试精度 ,从而能够在保证测试精度的前提下 ,提高测试速度并有效减小由于有限扫描面所引起的截断误差 .因此 ,本文方法特别适合于大型相控阵天线的平面近场测量