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随着电子技术的不断发展,在微电子技术的支持下,微电子 产品受到消费者的广泛喜爱,电子设备在体积上逐渐缩小,对电子设备 的可靠性产生了一些影响,以静电放电为例,微电子设备容易受静电故 障。因此,我国对微电子设备的可靠性表现出很高的兴趣,但与国际技 术水平相比存在一些差异,这是我国微电子技术努力和发展的方向。本 文对微电子器件可靠性优化进行了研究。