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利用原子力／摩擦力显微镜研究了进口Ｓｏｎｙ，ＴＤＫ和较Ｎａｔｕｒｅ，Ｔｏｐ，ＺＺＺ录音带的表面开貌及纳米级载荷下的微摩擦性能。实验结果表明：３种国产带的粗糙度和粒度与进口Ｓｏｎｙ和ＴＤＫ带相当；Ｓｏｎｙ带的微摩擦力大于同样载荷下Ｎａｔｕｒｅ带，且其摩擦系数也略大于Ｎａｔｕｒｅ带。微摩擦力与表面形貌斜率间有较好的对应关系；摩擦力随载荷、表面形貌斜率及表面粘着力的增加而增大。