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应用Coulter DELSA 440zeta电位仪测定一水草酸钙晶体表面的zeta电位,研究高浓度草酸对古糖酯与一水草酸钙晶体粘附作用的影响;并应用G872研究高浓度酸下G872在一水草酸钙晶体表面的粘附变化。结果表明高草酸下晶体表面的zeta电位负值自24.5mV降低至20.6mV,晶体表面的放射强度显著低于空白对照组,提示高草酸下只有较少的大分子聚阴离子大分子抑制物粘附到晶体表面,从而解释了