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液晶分子的预倾角测试技术对研究液晶器件电光特性十分重要，现有的晶体旋转法不适合测试20°～70°之间的倾角，本文提出一种利用宾主效应原理测试液晶分子电控倾角的实验方法。推导出液晶盒中液晶分子倾角与透射光强的关系式，制备出加二色性染料液晶盒，对样品施加电场，观测液晶盒电光特性。对实验结果进行分析，认为该实验方法对于测试15°-75°之间的液晶分子电控倾角具有一定的可行性。