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为对天线罩这类薄壁复杂回转体进行测量，研制了天线罩几何参数测量仪，介绍了测量仪基于ＩＰＣ的开放型控制系统的控制原理及系统构成，探讨了控制系统软硬件开发技术，并对其中的一些关键技术进行了阐述，控制系统和测量机联机调试后，实现了天线罩外廊形、壁厚等几何参数准确、快速、经济的自动测量，取得了满意的效果。