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主要介绍了ＣＭＯＳ电路的ＩＤＤＱ测试技术。该的实现方法有两种：一种是片内ＩＤＤＱ测试；另一种是片上ＩＤＤＱ测试。前一种是在被测芯片内，设计一个电流传感器。是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路，变ＩＤＤＱ为电压测试，从而达到ＩＤＤＱ测试的目的。
用于CMOS集成电路的IDDQ测试技术研究
【摘 要】
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主要介绍了ＣＭＯＳ电路的ＩＤＤＱ测试技术。该的实现方法有两种：一种是片内ＩＤＤＱ测试；另一种是片上ＩＤＤＱ测试。前一种是在被测芯片内，设计一个电流传感器。是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路，变ＩＤＤＱ为电
【机 构】
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东北微电子研究所
【出 处】
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微处理机
【发表日期】
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1999年3期
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