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<正> 3-2 加低电压进行检测的可能性以前,都是加高电压测定有效指标tanδ。和静电电容值。这样做是为了得到简便易行的方法,但这种测定反而引发了严重的故障。因此,选用了阻抗分析器。对ACIV 低电压的测定值与以前高电压的测定值进行比较,其结果见图5。证实了tanδ与静电电容值都有明显的相关性。因此,开发诊断绝缘老化程度的技术,都采用加低电压进行测定tanδ和静电电容值的方法。