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采用电子背散射衍射方法(EBSD)对X65MS抗酸管线钢氢致开裂(HIC)的晶体学特征进行了研究,结果表明,{111}//ND取向晶粒和回复、再结晶晶粒具有良好的抗HIC性能,而{101}//ND取向晶粒和变形晶粒具有较高的HIC裂纹敏感性;此外,低值的局部取向错配角(KAM)和大角度晶界(HAGBs)对HIC裂纹萌生和扩展具有抑制作用,而高值的KAM和小角度晶界(LAGBs)则易于HIC裂纹的萌生和扩展。