论文部分内容阅读
目的寻找上颌磨牙近中颊根第二根管(MB2)根管口的定位规律.方法收集离体上颌第一、二磨牙共550颗.根管显微镜(DOM)下探查根管口,拍摄髓底图片,测量髓底一系列参数,分析MB2根管口定位规律.结果DOM下MB2发现率在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为78.24%和41.32%.MB2根管口位于MB-P根管口连线的近中,与该连线的垂直距离在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为0.66mm和0.63 mm;距近颊根主根管(MB)根管口距离分别为1.32 mm和1.21 mm.结论建议临床医生在探查上颌磨牙髓底时,可在M