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通过对球面弯晶背光成像系统的分析，获得了空间分辨率、能量分辨率等关键性能参数随成像系统设计参数变化的关系。利用这一关系对背光成像系统的不同成像方式应用进行分析，并用光路追踪模拟进行验证。在此基础上，利用X射线衍射仪开展了单能成像系统的成像演示实验，获得与模拟和数值分析一致的结果。通过对成像系统的设计优化，这种高分辨单能成像技术将能够在神光激光装置上开展的物理实验中获得广泛应用。