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为了快速感知并分析田间作物生长状况,采用先进的半导体镀膜工艺光谱成像传感器,研究了玉米植株冠层叶绿素含量分布式检测方法。试验采用IMEC 5×5成像传感器,拍摄47株苗期玉米植株冠层,获取673～951 nm范围内的25个波长的光谱图像。实验中,利用SPAD-520叶绿素仪非破坏性地测量叶绿素含量,每株玉米冠层叶片设置2～3个采样点,每点测量3次取平均,共计242个样本数据。对光谱图像数据,经4灰度级标准板提取并校准反射率。为了实现玉米植株与花盆、土壤背景的有效分离,在分析不同对象光谱反射率与图像像