论文部分内容阅读
采用自行设计的水平冷壁低压化学气相沉积(LPCVD)方法在偏向<1120>晶向8°的n型4H-SiC(0001)衬底上进行了同质外延生长.在5.3×10^3Pa的低压下,外延膜生长速率超过3μm/h.电容-电压法测试表明在非有意掺杂外延膜中净施主浓度为8.4×10^16cm^-3,Nomarski显微镜观察表明厚外延膜的表面光滑,生长缺陷密度很低.AFM测试显示表面均方根粗糙度为0.3nm,没有观察到宏观台阶结构.Raman谱线清晰锐利,表现出典型的4H-SiC特