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采用化学共沉淀法制备了锰取代的氢氧化镍样品,应用XRD技术对不同锰含量样品的相结构进行了表征,并用恒电流充放电、电流脉冲弛豫法和电化学阻抗技术研究了样品的电化学行为.XRD结果显示:锰含量少于20%时,样品主要由β相组成;而当锰含量达到28.3%时,可以得到具有纯α相结构的样品.电化学研究结果表明:掺锰的氢氧化镍样品具有优良的电化学循环稳定性;锰的掺杂提高了氢氧化镍电极的析氧电位,增大了样品的质子扩散系数;具有较低锰含量的氢氧化镍样品显示了较大的放电容量和较高的放电电位.