【摘 要】
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以BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系.系统的主次晶相分别为BaNd2Ti5O14和Bi4Ti3O12.对系统进行x-射线分析,用x-射线
【机 构】
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天津大学电信学院,天津电子材料研究所,黑龙江技术检验监督局
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以BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系.系统的主次晶相分别为BaNd2Ti5O14和Bi4Ti3O12.对系统进行x-射线分析,用x-射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数,再运用李赫德涅凯对数混合定则进行定量计算,得出系统的介电性能与用仪器实测的系统参数相符.在本研究系统中,x-衍射射线分析可以测定和定量表征烧结介质瓷中化合物相含量,经过对系统中各化合物的介电性能测定,可计算出所研究系统的介电性能,从而可作为一种介质的设计方法.
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