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研制了一种GaN p-i-n型单元器件,详细地讨论了该器件的制备工艺,并对该器件进行了光电性能测试.测试结果表明,器件的正向开启电压在2 V左右,零偏动态电阻R0约为1010~1011 Ω,最大峰值响应率在365 nm处为0.18~0.21 A/W,器件的上升响应时间和下降时间分别为2.8和13.4 ns.