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通过在自然条件下,低温胁迫对雪松叶片内光合色素及细胞电导率影响研究,为雪松的引种成功提供理论依据。结果表明:当年引种雪松在越冬期间叶绿素呈下降趋势、类胡萝卜素呈抛物线状;电导率也呈抛物线状变化规律,随着温度降低细胞膜受到一定伤害,部分电解质外渗,电导率也随之增加;雪松的抗寒能力与电导率变化具有密切的关系,在低温胁迫下细胞膜的破坏是雪松叶片受伤的重要原因之一。