论文部分内容阅读
采用化学溶液方法（CSD）在立方双轴织构的NiW合金基底上制备出了CeO2/La2Zr2O7（LZO）过渡层。利用常规XRD和XRD四环衍射仪对薄膜的取向进行了研究,结果显示CeO2薄膜和LZO薄膜具有很强的面内和面外取向,其中,CeO2（111）面φ扫描的半高宽值（FWHM）约8.35°,（200）面ω扫描的FWHM值约为6.54°。用高分辨扫描电子显微镜观察到薄膜表面致密平整,没有裂纹和孔洞。原子力显微镜测试结果表明,在30μm×30μm范围内,CeO2薄膜表面均方根粗糙