一种基于小间距LED显示驱动的SRAM控制器设计与实现

来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hongyan1230
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
针对多行扫多通道恒流发光二极管(Light Emitting Diode,LED)显示驱动芯片的SRAM选择问题,突破常规选择,基于通用类型的SRAM IP,设计了SRAM控制器.该控制器由控制电路、指令译码电路、数据处理电路、存储内建自测(Memory Build in Self-Test,MBIST)电路等主要部分组成.仿真和实验结果表明,采用该电路设计的显示驱动芯片可以减小芯片面积,降低成本,节省系统带宽,进一步提升显示的刷新率,降低系统设计的复杂度,为类似设计提供了新的设计思路.
其他文献
低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator,LDO)新品导入中,过强的铜线焊接会使焊球下芯片层间电介质层(Interlayer Dielectric,ILD)产生裂纹,从而导致器件测试漏电流失效或可靠性失效.通过对芯片结构的分析,指出LDO漏电流失效的原因,同时详细讨论了如何确定合理的铜线焊接参数、如何检测失效以及失效分析步骤.
设计一种基于功率合成方式的功率放大器,工作于400~800 MHz频段范围.模块内部采用4个功放管合成的方式,可实现宽频带800 W的功率输出;内部通过多级放大的方式,可获得较高的增益和较小的带内波动.针对P频段特点,选择大功率LDMOS器件,采用基于平面微带电容混合电路的匹配电路、功率分配和合成方式,最终效率达到45%以上.
QFN器件具有良好的电气性能,但器件回流焊接过程中极易产生底部热沉焊盘焊接空洞、器件引脚间锡珠、桥连等缺陷,当一个印制板焊接多个QFN器件时,缺陷发生率颇高.在高可靠性要求的航天产品焊接过程中,器件返修次数有限制,且返修会造成器件性能下降、组件可靠性降低等问题,因此亟需对QFN器件一次装配良率和焊接效果进行提升优化.为此,从原理上分析QFN器件热沉焊盘焊接空洞、器件引脚间锡珠缺陷产生机理,并从产品焊盘工艺性设计、钢网模板设计、焊接温度曲线设计等方面开展分析与优化.优化后,QFN器件一次装配良率提高,没有产
随着高能物理学的发展,粒子实验的能量越来越高,单位时间内产生的数据量也越来越大,粒子实验装置不仅要以极高的速度进行数据传输,还要有足够的开发潜力实现进一步的速度提升.相较于粒子实验装置现阶段普遍采用的并行传输,串行传输在速度提升上有着巨大的优势.为了满足粒子实验的需求,基于MicroTCA架构设计了一种用于数据传输的AMC板卡,详细介绍了设计方案和测试方案.AMC板卡以串行方式实现数据传输,速度可达5× 109 bit/s,既满足了需求,又有足够的开发潜力.
为了提高航空航天设备的可靠性和运行速度,提出了一种新型读写分离的14T静态随机存储器(SRAM)单元.基于65 nm体硅CMOS工艺,对读写分离14T存储单元的性能进行仿真,并通过在关键节点注入相应的电流源模拟高能粒子轰击,分析了该单元抗单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)的能力.与传统6T相比,该单元写速度、读静态噪声容限和位线写裕度分别提升了约5.1%、20.7%和36.1%.写速度优于其他存储单元,读噪声容限优于6T单元和双联锁存储单元(DICE),在具有较好的抗SEU能力的同
基于系统级封装(System in Package,SiP)技术,结合自研自主可控DSP处理器“魂芯”Ⅱ-A和多片DDR3颗粒,详细介绍了一款高速动态存储控制一体化SiP设备的设计方案和仿真验证分析结果.重点介绍了此款SiP的电路拓扑设计、版图设计,并从拓扑结构波形仿真、DDR3时序裕量计算、与板级实现方案对比三方面对其PCB后仿进行了分析和验证,仿真结果符合规范要求,证明了所采用的Fly-By拓扑适用于CPU与多片DDR3颗粒所组成的一体化SiP设备,且SiP设备性能优于板级实现方案.
为解决小点间距发光二极管(Light Emitting Diode,LED)显示屏中存在的刷新率较低和低灰显示均匀性差等问题,基于优化打散脉冲调制(Optimize-Scrambled Pulse with Modulation,OS-PWM)算法,采用时钟倍频技术,提出一种倍频OS-PWM算法.基于倍频OS-PWM算法,在不改变总灰度的前提下提高了刷新率,算法复杂度减少一半;对算法进行等级优化,提升了显示均匀性,并在实际样片中得到了验证.
基于深度学习的目标检测算法相较于传统的目标检测算法,对复杂场景的稳健性更强,是当前研究的热点方向.根据基于深度学习的目标检测算法的流程特点将其分为两阶段目标检测算法和单阶段目标检测算法,着重介绍了部分经典算法所解决的问题及其优缺点,梳理了其在工业界的应用情况,对其存在的问题进行了讨论,对未来可能的发展趋势进行了展望.
为降低抗辐射设计对元器件基本性能的影响,基于0.18μm CMOS加固工艺,通过场区注入工艺实现总剂量(Total Ionizing Dose,TID)加固,优化版图设计规则实现单粒子闩锁(Single Event Latch-up,SEL)加固,灵活设计不同翻转指标要求实现单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)加固.利用以上加固方法设计的电路,证明了加固工艺平台下的抗辐射电路在抗辐射性能及面积上具有明显优势.
基于以ARM Cortex-M0为内核的微控制器CKS32F030设计了一款智能电动牙刷.该智能电动牙刷采用声波振动电机带动牙刷头高频振动,可以有效清洁牙齿,预防牙周炎.智能电动牙刷为改善用户刷牙习惯而设计,具有定时提醒更换刷牙区域、定时关机和记录刷牙数据等功能.内嵌蓝牙模块,配合APP使用可查询刷牙数据,方便用户了解自身的刷牙情况.