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基于角谱理论推导出了光学模拟中取样参数的优化选取方法，重点分析了其与实际光学系统参数之间的相互制约关系，并通过数值计算进行了验证。利用控制变量的方法，分别探讨了取样数目、取样间隔对细节误差与轮廓误差的影响，以及光学系统的近场和远场取样参数的变化。结果表明：根据所得限制条件选取的取样参数能够获得较为精确的模拟结果，且能够对计算误差进行较好的解释；取样数、取样间隔是互相制约的，需结合实际的光学系统进行选取。