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采用EBSD技术对大冷轧变形量、再结晶退火后的Ni-W复合基带的表面织构进行了表征，对其晶粒取向信息、晶界特征等信息进行采集和分析。该基带经过冷轧和再结晶退火后，无需抛光，即可获得具有花样质量较高的Ni基复合基带表面的EBSD图像。经Orientation Imaging Microscopy^TM（OIM）4．6软件分析，结果表明该Ni基复合基带表面10°以内立方织构晶粒百分含量为97．9％。