目的:研究长期反复接触低强度635 nm激光致眼晶状体混浊特征。方法:于2019年12月，采取整群抽样方法，选取2014年1月至2018年12月广东省某市生产激光水平仪车间812人作为研究对象，根据工作中接触激光情况分成对照组（不接触激光）、激光漫反射组和激光直视组进行晶状体损伤回顾性观察分析。调查各组岗位激光辐照强度，分析各组员工晶状体混浊部位、形态，应用二分类重复测量资料进行影响因素的统计分析。结果:激光直视组员工岗位检出激光辐照度为0.72×10n -4~9.92×10n -4 mW/cmn 2，照射量为2.61×10n -2~1.53 J/cmn 2。研究对象均有晶状体混浊病变，各组均随时间增加病变增多，以激光直视组员工最多；多发生于前皮质的前极部及周边，发病形态以点状为主。激光直视组晶状体混浊率按观测点顺序（岗前及第1、2、3年）分别为0%、1.99%（8/402）、4.98%（20/402）和6.72%（27/402）。单因素分析显示，激光直视组晶状体混浊率较高，激光直视组第2年起晶状体混浊率高（n P<0.01）；多因素分析显示，激光对晶状体影响的组间、观测点主效应均有统计学意义（n P0.05）。n 结论:长期反复直视635 nm激光可致眼晶状体混浊病变，需严格强化产品安全分类，生产过程中需加强激光光化学作用致损伤防护。