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磨粒信息是评估接触表面摩擦学行为的主要依据。提出了一种基于普通光学显微镜的磨粒三维测量方法。该方法根据双目立体视觉的深度感知机理 ,利用光学显微镜模拟体视模式进行光学成像 ,并辅助相应的匹配方法和计算方法处理像对 ,来获取微粒的厚度尺寸 ,并根据高度分布重建了磨粒的表面形态。该方法有一定的实用性 ,开发了实际的测量系统 ,并给出了实验结果