论文部分内容阅读
开放架构ATE的概念最早于几年前在半导体工业界提出。[1-2]2002年STC（Semiconductor Test Consortium）组织成立，其目标是在业界建立一套关于开放架构ATE的标准，以应对SoC以及其他复杂芯片的低成本测试的挑战。STC于2004年发布针对开放架构ATE的标准——OPENSTAR^TM，提出了一个开放的模块化的测试平台。基于这个标准，第三方可以独立地开发ATE软硬件，并以“即插即用”的方式整合到这个测试平台上。[3]即ATE厂商、测试模块厂商以及测试系统整合商分工协作，完成