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新型μ-base精密测距仪是一款高精度基线测距仪，它采用ADM测距原理，在使用角隅棱镜（CCR1．5“，RRR1．5”）时，其在160m的范围内的测距精度优于10μm。本文在分析ADM测距原理的基础上，利用双频激光干涉仪校准装置，采用“平面镜反射扩大量程”的方法，对仪器的测距精度、测程等指标进行测试，对测量的结果进行了评定和分析，并给出一些可较大程度保证其精度的使用条件和使用方法。