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芯片一体化进程的加剧以及对功耗控制的关注日益增加，边界扫描技术面临新的挑战，这些挑战来源于调试、应用、测试等方面，紧凑型边界扫描技术对此提出了有效的解决方法；以IEEE1149.7标准以及国内外文献报道为依据，对精简引脚与增强功能边界扫描技术的测试规范进行系统的分析，重点对该技术的新功能、新特性和新应用进行详细介绍；针对符合IEEE1149.1标准的测试系统与被测系统如何升级以实现IEEE1149.7标准新功能的问题提出了相应的建议；最后总结了该技术的发展方向和应用前景。